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显微熔点仪X-4BII
显微熔点仪X-4BII图片
型号: X-4BII
产地: 上海
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型号:X-4BII
产地:上海
仪器产地:国产熔点仪
产品介绍

产品特征

1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;

2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

技术参数

仪器型号

X-4BII

测量范围

室温~320 ℃

测量方法

目视

测量模式

毛细管法、热台法

最小示值

0.1℃

重复性

≤200℃ ±1℃

>200℃ ±2℃

观察方式

双目体视显微镜

放大镜倍数

40×-100×变倍

电源

220V±22V,50Hz±1Hz

仪器尺寸

30mm×22mm×44mm

仪器净重

4.5kg

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